- Тэставыя заданні: Аднакропкавы аналіз мікраэлементаў, аналіз паверхневага сканавання элементаў
- Тэставыя аб'екты: празрыстыя і цяжкападдаючыяся эрозіі мінералы, такія як кварц, флюарыт, апатыт і крышталь.
- Тэставы перыяд: 5-10 рабочых дзён
(Высокачысты) кварцавы ўзор
- Аб’екты выпрабаванняў: празрыстыя і цяжкападдаючыяся эрозіі мінералы, такія як кварц, флюарыт, апатыт і крышталь
- Тэрмін выпрабаванняў: 5-10 рабочых дзён
Інструкцыі па падачы ўзораў:
Тыпы ўзораў: тонкія зрэзы, лісты зондаў, аптычныя лісты, смалавыя мішэні і г.д. Паверхні ўзораў павінны быць роўнымі, асабліва для ўзораў для візуалізацыі.
Памеры: даўжыня і шырыня не перавышаюць 10 см, таўшчыня не перавышае 2,5 см. Для ўзораў спецыяльных памераў даступныя паслугі па вырабе спецыяльных адсекаў для ўзораў.
Гэты эксперымент па мікраплямнаму аналізу LA-ICPMS/MS быў праведзены ў лабараторыі кампаніі Shanghai Chemlabpro Technology Co., Ltd. Эксперыментальнай сістэмай быў фемтасекундны лазер GenesisGEO, спалучаны з трайным квадрупольным мас-спектрометрам Agilent 8900.
У якасці газу для пераносу ўзору сістэма выкарыстоўвала гелій чысцінёй 99,999%. Лазерны абляцыйны прамень мог быць круглым або прастакутным, з памерам прамяня ад 1 да 500 мкм, і мог пашырацца. Час разагрэву і прамывання ўстаўляўся да і пасля плямнаму аналізу. У якасці знешніх стандартаў выкарыстоўваліся міжнародныя стандарты элементарнага аналізу NIST 616, NIST 614, NIST 612 і ARM-3, прычым набор стандартаў устаўляўся кожныя 10 плям узору. Мяжа выяўлення метаду складала <3 ppb!
Эксперыментальныя дадзеныя былі апрацаваны з дапамогай праграмнага забеспячэння Iolite4 з выкарыстаннем метаду нармалізацыі некалькіх знешніх стандартаў.
Марфалогія фемтасекундных эрозійных ям
Гранітны кварц
Злева направа: 5, 10, 20, 30, 50, 100, 200 мкм
Вымярэнне глыбіні эрозійных ям (кварц)
Сканіраванне паверхні кварца
Прасторавае разрозненне: 50 мкм
Пікселяў: 137 000
Плошча выявы: 15,7 x 12,6 мм